研究成果

国家科技进步二等奖——×××多余物自动检测技术

2015-06-24 14:31:22  发布人:

密封电子元器件及电子设备内部多余物问题,一直是影响航天型号和武器装备可靠性和安全性的重大技术难题。因多余物导致星、箭、弹、航天飞机等发射运行事故已给国家造成无法估量的损失。

哈尔滨工业大学电器与电子可靠性研究所自2002年开展×××多余物自动检测技术研究工作以来,受国防工业技术基础、国防科工局民用航天重点、总装备部型谱、国家自然科学基金等项目资助。课题组经过十余年攻关,突破一系列关键技术瓶颈,取得多项自主创新性研究成果,主要技术指标居于国际领先水平。目前,已经建立了完备的密封电子元器件及电子设备多余物检测理论体系,研制了一系列具有自主知识产权的密封电子元器件及电子设备多余物自动检测系统,提出了一种新的PIND试验规范(制定QJ标准1部、修改GJB两部),授权国家发明专利8项,发表SCIEI论文31篇,培养博士7名,并于2012年获国防科技进步一等奖,2014年获国家科技进步二等奖。